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立即法的首要条件是可以搜集到很多准确的衍射数据信息。假如一个分子筛材料可以制取变成具备充足规格的大单晶,大家就可以应用单晶X射线衍射仪进行很多衍射数据信息的搜集,随后选用立即法就可以成功获得分子筛结晶的内部结构结构。伴随着包含正电荷耦合器件,与三维成像板,等二维探测仪的创造与普及化,单晶X射线衍射仪的数据采集速率早已获得了质的提高,一个分子筛材料结构分析的一挑选。在现在已经知道分子筛结构中,碳分子筛厂家很多聚磷酸盐分子筛与天然活性碳的结晶结构全是根据单晶X射线衍射测定方法的。
殊不知,并不是全部的分子筛材料都可以塑造出足够大的单晶。实际上在近五年内报导的约50种分子筛结构中,仅有不上1/3的分子筛材料可以制取变成大单晶。针对一些没法制取成实单晶的分子筛材料而言,只有运用其小外形尺寸的多晶样晶开展结构测量。单晶与多晶的X射线衍射谱图上经常会出现明显的峰位重合。峰位重叠是多晶结构分析所遭遇的高的难点,他立即造成衍射抗压强度没法准确测量,因而这些相对高度依靠衍射抗压强度的结构分析方式通常没法立即用以多晶衍射数据信息。虽然选用同步辐射灯源可以在水平上减少峰位重叠问题,但针对活性碳分子筛这类具备繁杂结构的多晶材料而言是不能处理关键问题,因而大家需要研发出针对分子筛材料的多晶体结构分析方式。